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【鉅亨網記者蔡宗憲 台北】

半導體測試設備大廠愛德萬測試(ATE-US)宣布，推出新一代系統單晶片元件測試分類機，分類機除維持愛德萬測試原有技術優勢，並提供最新先進功能，具備愛德萬測試獨有溫控(Tri-Temp)技術開發的高產能主動式熱控目視調準功能，所有資料也採全新視覺化架構，使用者只要透過網路就能即時監控測試機台生產進度，產品預計明年第 1 季開始交貨給客戶。

愛德萬推出新款單晶片元件測試分類機，代號M4871，愛德萬測試工廠自動化事業部長Hiroki Ikeda表示，這款全新分類機完整整合系統單晶片所需之各種測試功能。愛德萬表示，為協助客戶提高測試良率、加快測試週期時間，新一代M4871分類機加入目視調準功能，適合處理微細間距元件，及同時具有頂部和底部接觸結構的半導體元件，有效提升產能。

此外，在閒置時間方面，M4871也比過去縮短許多，有效測試作業時間 1 個月可多出20小時之多，使得整體設備效能(OEE)和元件成本獲得大幅改善；例如由於M4871採用最新熱控技術「雙液設計」，卡料所造成的作業閒置只需耗費最短的清理時間，反觀其他採用反應室設計的分類機，從反應室冷卻、清理卡料，到恢復運作溫度，整個過程至少需耗費60分鐘以上。

不僅如此，M4871分類機的優勢更在於可廣泛因應各種溫度測試需求，在攝氏零下10度環境下，M4871分類機能連續14天不中斷運作，無需進行除霜，減少系統定時維護工作。新一代M4871分類機基本配置的並行同測能力為前一代之 8 倍，每小時總測試產量最高可達8000個元件，現有客戶能直接升級，同時也降低耗電量、減少測試載具成本。

愛德萬指出，新一代M4871分類機預計在2014年第 1 季開始交貨給客戶。

『新聞來源／鉅亨網 http://news.cnyes.com/ 』

關鍵字: 財經 鉅亨網

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