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汎銓科技專精於半導體尖端製程技術的研發分析服務，為IC Design House、FAB、半導體設備商及LED產業的長期夥伴，配合客戶需求，提供各種材料分析及IC電路修補，受到高度信賴。

汎銓建置有高解析度FE-SEM、FIB、TEM等材料結構分析儀器，以及OBIRCH、InGaAs等電性故障分析儀器，並有IC設計電路修補儀器等先進設備，能協助客戶找出缺陷和故障成因，加速產品商業化。

材料分析部門主管周學良表示，隨著半導體製程演進，台灣及國際半導體廠已邁入20/22nm 及14/16nm生產及研發的世代，汎銓不斷投入設備及研發來提升分析技術能力，符合先進製程需求。汎銓更嘗試向最高難度的技術挑戰，以市面上最先進的Intel 22nm CPU （Ivy bridge CUP）進行TEM 分析，結果證明，該公司的TEM 分析能力不但與世界級實驗室同一水準，時效上的領先更獲得客戶認同。

一般TEM試片的厚度約100nm，但14~22nm製程則需具備超薄TEM 試片厚度的製備能力，汎銓早已具備此分析能力，能滿足16~22nm 先進製程的需求。而隨著製程微縮至14~22nm，一般TEM影像已無法滿足分析需求，必需藉由成份（元素）的分析資訊輔助觀察，該公司特別購置最先進的Windowless EDS 偵測器，強化元素分佈（element mapping）分析的能力。

清華大學陳福榮教授為電子顯微鏡研究領域的專家，今年年初汎銓敦請他擔任榮譽顧問。陳福榮在高顯像能電子顯微鏡、積體電路微結構分析、固體界面原子結構偏折及鍵結、原子分辨率斷層攝影學、先進電子光學儀器設計研發、軟物質電子顯微學（相位板／濕胞顯微術）、電致色變智慧節能窗、太陽能電池元件製程等方面，具有突出的成就和顯著貢獻，因而享有聲譽。

汎銓表示，在陳福榮教授的協助下，將進一步精進公司在電子顯微鏡、積體電路微結構分析、固體界面原子結構偏折及鍵結等材料分析領域的技術能力，提升服務客戶的能量與深度。

維持人員的穩定性，累積經驗與技術傳承，為汎銓重要的策略與競爭優勢。汎銓很自豪於員工年薪一直高於同業，離職率低於同業，深信並澈底實踐:維持人員穩定性才能在專業度領先同業，也是讓客戶滿意的不二法門。

汎銓科技（MSS）以奈米碳管結構做為LOGO，期盼所有成員就像奈米碳管中的碳原子，緊密結合、強韌延展，持續強化專業及熱忱特質，成為客戶研發分析的長期夥伴。汎銓參加2013國際半導體展參展，攤位號碼404，電話（03）666-3298，http://www.msscorps.com/。

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